金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品專業(ye)(ye)用(yong)于X射線(xian)(xian)測(ce)厚(hou)儀(yi)（膜厚(hou)儀(yi)）在測(ce)金(jin)屬鍍層(ceng)厚(hou)度時進行(xing)的標(biao)(biao)(biao)準化校準及建(jian)立測(ce)試檔(dang)案。也就是我們在膜厚(hou)測(ce)試中常用(yong)的標(biao)(biao)(biao)準曲(qu)(qu)線(xian)(xian)法，是測(ce)量已知厚(hou)度或(huo)組成(cheng)(cheng)的標(biao)(biao)(biao)準樣品(pin)，根據熒光X-射線(xian)(xian)的能量強(qiang)度及相應(ying)鍍層(ceng)厚(hou)度的對應(ying)關(guan)系，來(lai)(lai)得到標(biao)(biao)(biao)準曲(qu)(qu)線(xian)(xian)。以(yi)此標(biao)(biao)(biao)準曲(qu)(qu)線(xian)(xian)來(lai)(lai)測(ce)量鍍層(ceng)樣品(pin)，以(yi)得到鍍層(ceng)厚(hou)度或(huo)組成(cheng)(cheng)比(bi)率。對于PCB、五(wu)金(jin)電鍍和半導體等行(xing)業(ye)(ye)使用(yong)測(ce)厚(hou)儀(yi)來(lai)(lai)檢測(ce)品(pin)質和控(kong)制(zhi)成(cheng)(cheng)本起到了很(hen)重要(yao)的作用(yong)。

　　膜厚(hou)標(biao)準片(pian)采(cai)用(yong)(yong)了磁性(xing)測厚(hou)法(fa)：是一(yi)種超(chao)小型(xing)丈(zhang)(zhang)量儀，它能快速(su)，無損傷，切(qie)確(que)地進行鐵磁性(xing)金屬基體上的(de)噴涂。電鍍(du)層厚(hou)度(du)的(de)丈(zhang)(zhang)量。可普(pu)遍用(yong)(yong)于(yu)制造業(ye)，金屬加(jia)工(gong)業(ye)，化工(gong)業(ye)，商檢(jian)等檢(jian)測領域。出格(ge)適用(yong)(yong)于(yu)工(gong)程現場(chang)丈(zhang)(zhang)量。

　　膜厚(hou)(hou)標準片采(cai)用磁(ci)(ci)(ci)感應原(yuan)理時，利用從(cong)測(ce)(ce)頭經過非鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)而流入(ru)(ru)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)基體的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)通(tong)的(de)(de)大(da)小，來(lai)測(ce)(ce)定(ding)覆(fu)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。也(ye)可(ke)以測(ce)(ce)定(ding)與(yu)之(zhi)對應的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)阻(zu)的(de)(de)大(da)小，來(lai)表(biao)示(shi)其(qi)覆(fu)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。覆(fu)層(ceng)越(yue)厚(hou)(hou)，則磁(ci)(ci)(ci)阻(zu)越(yue)大(da)，磁(ci)(ci)(ci)通(tong)越(yue)小。利用磁(ci)(ci)(ci)感應原(yuan)理的(de)(de)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀，原(yuan)則上可(ke)以有導(dao)磁(ci)(ci)(ci)基體上的(de)(de)非導(dao)磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。如果覆(fu)層(ceng)材料也(ye)有磁(ci)(ci)(ci)性，則要(yao)求與(yu)基材的(de)(de)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)率之(zhi)差足夠大(da)（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的(de)(de)測(ce)(ce)頭放(fang)在被測(ce)(ce)樣(yang)本上時，儀器自(zi)動(dong)輸出測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流或測(ce)(ce)試(shi)(shi)信號。早期(qi)的(de)(de)產(chan)品采(cai)用指(zhi)針式表(biao)頭，測(ce)(ce)量感應電(dian)動(dong)勢(shi)的(de)(de)大(da)小，儀器將該信號放(fang)大(da)后來(lai)指(zhi)示(shi)覆(fu)層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。近年(nian)來(lai)的(de)(de)電(dian)路設計(ji)引(yin)入(ru)(ru)穩頻、鎖相、溫度(du)(du)(du)補償等地新技術，利用磁(ci)(ci)(ci)阻(zu)來(lai)調制測(ce)(ce)量信號。還采(cai)用設計(ji)的(de)(de)集成電(dian)路，引(yin)入(ru)(ru)微機，使測(ce)(ce)量精度(du)(du)(du)和(he)重現性有了大(da)幅度(du)(du)(du)的(de)(de)提高（幾(ji)乎(hu)達一個(ge)數量級）。

　　金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。