（一）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品優勢

1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高(gao)（見以下(xia)產品特征詳述）。

2. 多導毛細管配置(zhi)，光斑(ban)尺寸50um

3. 平臺(tai)尺寸：620*525mm，樣(yang)品移動距離可達(da)250*250mm。

4. 激光定位。

• 可檢測軟硬板電鍍(du)層厚度。

• 運(yun)行及維護成本低(di)、無易損易耗品，對使用環境相對要求(qiu)低(di)。

• 可進行未知標樣掃描、無標樣定(ding)性，半(ban)定(ding)量分析。

• 操作(zuo)簡單(dan)、易學易懂、精(jing)準無損、高品(pin)質、高性能、高穩定性，快速出(chu)檢測結(jie)果。

• 可針對客(ke)戶個性化要求(qiu)量(liang)身定做輔助分析配置硬(ying)件。

• 軟件*升級。

• 無損檢測，一次性購買標(biao)樣可長期(qi)使用(yong)。

• 使(shi)用安心(xin)無憂，售(shou)后服(fu)務(wu)響(xiang)應時(shi)間24H以(yi)內，提供*保姆式服(fu)務(wu)。

• 可以遠(yuan)程操(cao)作，解決客戶(hu)使(shi)用中(zhong)的后(hou)顧之憂(you)。

（二）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品特征

• 高性能高精度X熒光(guang)光(guang)譜儀（XRF）

• 計算(suan)機 / MCA(多(duo)通道分析儀(yi))

2048通道逐(zhu)次近(jin)似(si)計算法ADC（模擬數(shu)字轉換器(qi)）。

• Multi Ray. 運(yun)用(yong)基本(ben)參數（FP）軟件(jian)，通過簡單的(de)三步(bu)進(jin)行無標(biao)樣(yang)標(biao)定，使用(yong)基礎參數計(ji)算方法，對樣(yang)品(pin)進(jin)行精確的(de)鍍層厚度(du)分(fen)析。

• MTFFP (多層(ceng)(ceng)薄膜基本參數法) 模塊進行(xing)鍍(du)層(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)分析

多鍍層厚度同時測量

4.1 單性金屬鍍層厚度測量(liang)。

4.2 合金鍍層厚度測(ce)量。

4.3 雙鍍層厚度測量(liang)。

4.4 雙鍍層（其中一(yi)層是合金）厚度(du)測量。

4.5 三鍍(du)層厚(hou)度測量。

4.6 測量點大小：50um。