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產品分類
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鍍層測厚儀

簡要描述:

X射線熒光鍍層測厚儀產品類型:能量色散X熒光光譜分析設備
產品名稱:鍍層測厚儀
型 號:iEDX-150T
生 產 商:韓國ISP公司
亞太地區戰略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
應用領域:金屬(shu)電(dian)鍍(du)鍍(du)層分析

更新(xin)時間:2023-04-24

品牌ISP/韓國行業專用類型通用
價格區間10萬-30萬儀器種類臺式/落地式

一、產品優勢及特征

(一)產品優勢

1. 鍍層測厚儀運用X射線熒光光譜(pu)分析方法進行鍍(du)(du)層(ceng)檢測(ce),多(duo)鍍(du)(du)層(ceng)檢測(ce)可達5層(ceng),精度及穩定性(xing)可控制在+/-5%內。

2. 儀器(qi)尺寸(cun):618*525*490mm,樣品移動(dong)距離:160*150*90mm。

3. 激光定位和自動多點測量功能。

  • 可檢測固體、粉末狀態材料。
  • 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
  • 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
  • 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
  • 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
  • 軟件*升級。
  • 無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。
  • 使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供*保姆式服務。
  • 可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
  • 可進行RoHS檢測(選配功能),應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,歐盟及北美RoHS檢測等要求標準,精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

(二)產品特征

  • 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
  • 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬(ni)數字轉換(huan)器)。

  • Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測功能。
  • MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線(xian)性模(mo)式進行薄鍍層厚度測量(liang)

相(xiang)對(dui)(比)模(mo)式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

多鍍層厚度同時測量

單(dan)鍍(du)層(ceng)應用 [如:Cu/ABS等]

雙鍍(du)層(ceng)應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層(ceng)應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四(si)鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等(deng)]

合金(jin)鍍層應 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可(ke)同時(shi)分析20種元素(su)。半定量分析頻譜比較、減(jian)法運算和配(pei)給。

Smart-Ray. 金(jin)屬(shu)(shu)行(xing)業精確定(ding)量(liang)分析軟件。可一次性分析25種元素。小(xiao)二乘法(fa)(fa)計算(suan)峰值反(fan)卷(juan)積。采(cai)用(yong)盧卡斯-圖思計算(suan)方法(fa)(fa)進行(xing)矩陣校(xiao)正及內部元素作用(yong)分析。金(jin)屬(shu)(shu)分析精度可達+ /-0.02%,貴金(jin)屬(shu)(shu)(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray。含(han)全(quan)元(yuan)素、內部元(yuan)素、矩陣校正(zheng)模塊。

  • Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統
  • 完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
  • 自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

 

二、產品(pin)配置及技(ji)術指標說明

u 測(ce)量原理:能量色散X射線(xian)分(fen)析(xi)

u 樣品(pin)類型:固體/粉(fen)末

u X射線光管:50KV,1mA

u過(guo)濾(lv)器(qi):5過(guo)濾(lv)器(qi)自(zi)動(dong)轉換

u檢測系統:SDD探測器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準(zhun)直器孔(kong)徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應(ying)用程序語言(yan):韓(han)/英/中(zhong)

u分析方(fang)法:FP/校準曲線,吸收,熒光

u儀器尺寸(cun):618*525*490mm

u樣品移(yi)動距離:160*150*90mm

 

1. X射線管(guan):高穩定性X光光管(guan),微焦點X射線管(guan)、Mo (鉬) 靶

鈹窗口, 陽(yang)極焦(jiao)斑尺寸75um,油絕緣(yuan),氣冷(leng)式,輻射安(an)全電子管屏(ping)蔽。

50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序(xu)提供優異性(xing)能。

  • 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)

能量分辨(bian)率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

  • 濾光片/可選

初級濾光(guang)片:Al濾光(guang)片,自動切換

7個準(zhun)直(zhi)器:客戶可(ke)選準(zhun)直(zhi)器尺寸或定(ding)制(zhi)特殊尺寸準(zhun)直(zhi)器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  • 平臺:軟件程序控制步進式電機驅動X-Y軸移動大樣品平臺。
    激光定位、簡易荷載大負載量為5公斤
    軟件控制程序進行持續性自動測量
  • 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線:

- 2048通(tong)道逐次(ci)近似計算法ADC(模擬數字(zi)轉(zhuan)換)

- 基點改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件(jian)包(bao)含元(yuan)素ROI及測量讀數自動顯示

7.視頻系(xi)統:高分辨率(lv)CCD攝像頭(tou)、彩(cai)色視頻系(xi)統

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數:40X

- 照明(ming)方法:上照式

- 軟件控制取得高真(zhen)圖(tu)像

8. 計算機(ji)、打印機(ji)(贈送)

  • 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
  • 含Win 7/Win 10系統。
  • Multi-Ray鍍層分析軟件

注:設備(bei)需要配備(bei)穩壓器,需另計。

 


五、軟件說明

1.鍍層測厚儀儀器工作原理說明

 

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